光谱分析显微样品的新方法

在科学，医药和工业领域，对微观样品及微采样区进行鉴别、分类和定量分析变得越来越重要。

紫外－可见－近红外显微分光光度计，结合了显微学和光谱学的优势，实现了对显微样品的无损光谱测量和光谱分析。

美国CRAIC公司是研究及生产显微分光光度分析系统的领导者。美国CRAIC公司生产的QDI系列显微分光光度分析系统采用了科研级显微镜，科研级图像采集探测器及科研级光谱分析仪。

CRAIC公司是目前世界上唯一使用科研级致冷数码图像采集探测器的显微分光光度分析系统生产商。

CRAIC显微分光光度分析系统结合了显微学及光谱学的优势，集多种光谱技术于一身，实现了对显微样品的无损光谱测量及光谱分析，是普通光度计无法办到的。目前已用于石油，煤炭，生物学，半导体科学，材料科学，工业质量控制及刑事科学等。

CRAIC QDI 系列显微分光光度分析系统以其无以伦比的质量性能，简单易用的操作界面及专业化的售后服务为显微学及光谱学开辟了崭新的应用空间。

CRAIC QDI 系列显微分光光度分析系统不仅能获得显微样品的高质量图像，还可以对显微样品进行全光谱（紫外-可见-近红外）定性定量测量分析。光谱范围可从200nm延伸到2100nm。而且可用多种方式测量：

l    透射或吸收

l    反射

l    荧光

l    偏振

美国CRAIC 公司还与客户密切沟通，开发出了UVM系列全光显微镜。

美国CRAIC 公司的全光（紫外－可见－近红外）显微镜专为获得常规显微镜无法得到的显微图像而设计。紫外－可见－近红外显微镜具有亚微米级分辨率，能够对深紫外和近红外波段成像。具有很强的适应性，集多种先进的显微成像技术于一身。